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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Impact of Surface Morphology above Threading Dislocations on Leakage Current in 4H-SiC Diodes

    Beteiligte:

    Fujiwara, H. (Autor:in) / Katsuno, T. (Autor:in) / Ishikawa, T. (Autor:in) / Naruoka, H. (Autor:in) / Konishi, M. (Autor:in) / Endo, T. (Autor:in) / Watanabe, Y. (Autor:in) / Tsuruta, K. (Autor:in) / Onda, S. (Autor:in) / Adachi, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 911-916

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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