Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Analyses of High Leakage Currents in Al^+ Implanted 4H SiC pn Diodes Caused by Threading Screw Dislocations

    Neue Suche nach: Tsuji, T.
    Neue Suche nach: Tawara, T.
    Neue Suche nach: Tanuma, R.
    Neue Suche nach: Yonezawa, Y.
    Neue Suche nach: Iwamuro, N.
    Neue Suche nach: Kosaka, K.
    Neue Suche nach: Yurimoto, H.
    Neue Suche nach: Kobayashi, S.
    Neue Suche nach: Matsuhata, H.
    Neue Suche nach: Fukuda, K.
    Neue Suche nach: Bauer, A.J.
    Neue Suche nach: Friedrichs, P.
    Neue Suche nach: Krieger, M.
    Neue Suche nach: Pensl, G.
    Neue Suche nach: Rupp, R.
    Neue Suche nach: Seyller, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Analyses of High Leakage Currents in Al^+ Implanted 4H SiC pn Diodes Caused by Threading Screw Dislocations

    Neue Suche nach: Tsuji, T.
    Neue Suche nach: Tawara, T.
    Neue Suche nach: Tanuma, R.
    Neue Suche nach: Yonezawa, Y.
    Neue Suche nach: Iwamuro, N.
    Neue Suche nach: Kosaka, K.
    Neue Suche nach: Yurimoto, H.
    Neue Suche nach: Kobayashi, S.
    Neue Suche nach: Matsuhata, H.
    Neue Suche nach: Fukuda, K.
    Neue Suche nach: Bauer, A.J.
    Neue Suche nach: Friedrichs, P.
    Neue Suche nach: Krieger, M.
    Neue Suche nach: Pensl, G.
    Neue Suche nach: Rupp, R.
    Neue Suche nach: Seyller, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Analyses of High Leakage Currents in Al^+ Implanted 4H SiC pn Diodes Caused by Threading Screw Dislocations

    Neue Suche nach: Tsuji, T.
    Neue Suche nach: Tawara, T.
    Neue Suche nach: Tanuma, R.
    Neue Suche nach: Yonezawa, Y.
    Neue Suche nach: Iwamuro, N.
    Neue Suche nach: Kosaka, K.
    Neue Suche nach: Yurimoto, H.
    Neue Suche nach: Kobayashi, S.
    Neue Suche nach: Matsuhata, H.
    Neue Suche nach: Fukuda, K.
    Neue Suche nach: Bauer, A.J.
    Neue Suche nach: Friedrichs, P.
    Neue Suche nach: Krieger, M.
    Neue Suche nach: Pensl, G.
    Neue Suche nach: Rupp, R.
    Neue Suche nach: Seyller, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Analyses of High Leakage Currents in Al^+ Implanted 4H SiC pn Diodes Caused by Threading Screw Dislocations

    Beteiligte:

    Tsuji, T. (Autor:in) / Tawara, T. (Autor:in) / Tanuma, R. (Autor:in) / Yonezawa, Y. (Autor:in) / Iwamuro, N. (Autor:in) / Kosaka, K. (Autor:in) / Yurimoto, H. (Autor:in) / Kobayashi, S. (Autor:in) / Matsuhata, H. (Autor:in) / Fukuda, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 913-916

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Impact of Surface Morphology above Threading Dislocations on Leakage Current in 4H-SiC Diodes

    Fujiwara, H. / Katsuno, T. / Ishikawa, T. et al. | British Library Online Contents | 2012

    Structure and stability of threading edge and screw dislocations in bulk GaN

    Gröger, R. / Leconte, L. / Ostapovets, A. | British Library Online Contents | 2015

    Studies of the Distribution of Elementary Threading Screw Dislocations in 4H Silicon Carbide Wafer

    Chen, Y. / Zhang, N. / Huang, X.R. et al. | British Library Online Contents | 2009

    A finite element study of threading dislocations

    Stigh, U. | British Library Online Contents | 1993

    Interaction of 6H-Type Stacking Faults with Threading Screw Dislocations in PVT-Grown 4H-SiC Single Crystals

    Sato, S. / Fujimoto, T. / Tsuge, H. et al. | British Library Online Contents | 2012

    Nach oben