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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Bipolar Degradation in 4H-SiC Thyristors

    Beteiligte:

    Soloviev, S. (Autor:in) / Losee, P. (Autor:in) / Arthur, S. (Autor:in) / Stum, Z. (Autor:in) / Garrett, J. (Autor:in) / Elasser, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 1175-1178

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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