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    Titel:

    Direct observation of phase transition of GeSbTe thin films by Atomic Force Microscope

    Beteiligte:

    Yang, F. (Autor:in) / Xu, L. (Autor:in) / Zhang, R. (Autor:in) / Geng, L. (Autor:in) / Tong, L. (Autor:in) / Xu, J. (Autor:in) / Su, W. (Autor:in) / Yu, Y. (Autor:in) / Ma, Z. (Autor:in) / Chen, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 258 ; 9751-9755

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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