On the Determination of Refractive Index and Thickness of Thin Dielectric Films from Measurement of Transmittance: Fid-Bau Portal

On the Determination of Refractive Index and Thickness of Thin Dielectric Films from Measurement of Transmittance

Shah, Z.H. / Ahmad, I. / Tahir, Q.A. / Khawaja, E.E.

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Titel:

On the Determination of Refractive Index and Thickness of Thin Dielectric Films from Measurement of Transmittance

Beteiligte:

Shah, Z.H. (Autor:in) / Ahmad, I. (Autor:in) / Tahir, Q.A. (Autor:in) / Khawaja, E.E. (Autor:in)

Erschienen in:

SURFACE REVIEW AND LETTERS ; 19 ; 1250059

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

1250059 pages

ISSN:

0218-625X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 530.417

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