Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Dislocation Analysis of 4H-/6H-SiC Single Crystals Using Micro-Raman Spectroscopy

    Neue Suche nach: Shin, Y.J.
    Neue Suche nach: Kim, W.J.
    Neue Suche nach: Kim, H.Y.
    Neue Suche nach: Bahng, W.
    Neue Suche nach: Lebedev, A.A.
    Neue Suche nach: Davydov, S.Y.
    Neue Suche nach: Ivanov, P.A.
    Neue Suche nach: Levinshtein, M.E.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dislocation Analysis of 4H-/6H-SiC Single Crystals Using Micro-Raman Spectroscopy

    Neue Suche nach: Shin, Y.J.
    Neue Suche nach: Kim, W.J.
    Neue Suche nach: Kim, H.Y.
    Neue Suche nach: Bahng, W.
    Neue Suche nach: Lebedev, A.A.
    Neue Suche nach: Davydov, S.Y.
    Neue Suche nach: Ivanov, P.A.
    Neue Suche nach: Levinshtein, M.E.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Dislocation Analysis of 4H-/6H-SiC Single Crystals Using Micro-Raman Spectroscopy

    Neue Suche nach: Shin, Y.J.
    Neue Suche nach: Kim, W.J.
    Neue Suche nach: Kim, H.Y.
    Neue Suche nach: Bahng, W.
    Neue Suche nach: Lebedev, A.A.
    Neue Suche nach: Davydov, S.Y.
    Neue Suche nach: Ivanov, P.A.
    Neue Suche nach: Levinshtein, M.E.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Dislocation Analysis of 4H-/6H-SiC Single Crystals Using Micro-Raman Spectroscopy

    Beteiligte:

    Shin, Y.J. (Autor:in) / Kim, W.J. (Autor:in) / Kim, H.Y. (Autor:in) / Bahng, W. (Autor:in) / Lebedev, A.A. / Davydov, S.Y. / Ivanov, P.A. / Levinshtein, M.E.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2012 Selected, peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation ; 481-484

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 740/742

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2013

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Dislocation motion in erbia single crystals

    Sharif, A. A. / Misra, A. / Petrovic, J. J. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Dislocation imaging in fcc colloidal single crystals

    Schall, P. / Spaepen, F. | British Library Online Contents | 2006

    Microhardness and Raman Spectroscopy for Characterization of Fullerite Single Crystals

    Haluska, M. / Zehetbauer, M. / Human, M. et al. | British Library Online Contents | 1996

    Microhardness and Raman Spectroscopy for Characterization of Fullerite Single Crystals

    Haluska, M. / Zehetbauer, M. / Hulman, M. et al. | British Library Online Contents | 1996

    Micro-Raman spectroscopy of thaumasite

    Brough, A.R. | Online Contents | 2001

    Nach oben