Characterization of Rutile N-Doped TiO~2 Films Prepared by RF Magnetron Sputtering: Fid-Bau Portal

Characterization of Rutile N-Doped TiO~2 Films Prepared by RF Magnetron Sputtering

Dobromir, M. / Manole, A.V. / Rebegea, S. / Apetrei, R. / Neagu, M. / Luca, D.

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Titel:

Characterization of Rutile N-Doped TiO~2 Films Prepared by RF Magnetron Sputtering

Beteiligte:

Dobromir, M. (Autor:in) / Manole, A.V. (Autor:in) / Rebegea, S. (Autor:in) / Apetrei, R. (Autor:in) / Neagu, M. (Autor:in) / Luca, D. (Autor:in) / Hristoforou, E. / Vlachos, D.S.

Erschienen in:

Materials and Applications for Sensors and Transducers II ; 277-280

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 543

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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