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    Titel:

    Depth-Resolved Residual Stress Analysis with High-Energy Synchrotron X-Rays Using a Conical Slit Cell

    Beteiligte:

    Staron, P. (Autor:in) / Fischer, T. (Autor:in) / Keckes, J. (Autor:in) / Schratter, S. (Autor:in) / Hatzenbichler, T. (Autor:in) / Schell, N. (Autor:in) / Muller, M. (Autor:in) / Schreyer, A. (Autor:in) / Kurz, S.J.B. / Mittemeijer, E.J.

    Erschienen in:

    International Conference on Residual Stresses 9 (ICRS 9) ; 72-78

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 768/769

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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