Simulation of Transmission Electron Microscope Images of Dislocations Pinned by Obstacles: Fid-Bau Portal

Simulation of Transmission Electron Microscope Images of Dislocations Pinned by Obstacles

Satoh, Y. / Hatano, T. / Nita, N. / Nogiwa, K. / Matsui, H.

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Titel:

Simulation of Transmission Electron Microscope Images of Dislocations Pinned by Obstacles

Beteiligte:

Satoh, Y. (Autor:in) / Hatano, T. (Autor:in) / Nita, N. (Autor:in) / Nogiwa, K. (Autor:in) / Matsui, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS TRANSACTIONS ; 55 ; 413-417

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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