Nano-Scale Native Oxide on 6H-SiC Surface and its Effect on the Ni/Native Oxide/SiC Interface Band Bending: Fid-Bau Portal

Nano-Scale Native Oxide on 6H-SiC Surface and its Effect on the Ni/Native Oxide/SiC Interface Band Bending

Huang, W. / Liu, X. / Liu, X.C. / Zhou, T.Y. / Zhuo, S.Y. / Zheng, Y.Q. / Yang, J.H. / Shi, E.W.

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Titel:

Nano-Scale Native Oxide on 6H-SiC Surface and its Effect on the Ni/Native Oxide/SiC Interface Band Bending

Beteiligte:

Huang, W. (Autor:in) / Liu, X. (Autor:in) / Liu, X.C. (Autor:in) / Zhou, T.Y. (Autor:in) / Zhuo, S.Y. (Autor:in) / Zheng, Y.Q. (Autor:in) / Yang, J.H. (Autor:in) / Shi, E.W. (Autor:in) / Okumura, H. / Harima, H.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2013 PART 1 Selected, peer reviewed papers from the 15^t^h International Conference on Silicon Carbide and Related Materials, (ICSCRM 2013), September 29 - October 4, 2013, Miyazaki, Japan ; 566-570

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 778/780

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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