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    Titel:

    XPS analysis and structural and morphological characterization of Cu"2ZnSnS"4 thin films grown by sequential evaporation

    Beteiligte:

    Gordillo, G. (Autor:in) / Calderon, C. (Autor:in) / Bartolo-Perez, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 305 ; 506-514

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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