Boost Up Mobility of Solution-Processed Metal Oxide Thin-Film Transistors via Confining Structure on Electron Pathways: Fid-Bau Portal

Boost Up Mobility of Solution-Processed Metal Oxide Thin-Film Transistors via Confining Structure on Electron Pathways

Rim, Y. S. / Chen, H. / Kou, X. / Duan, H. S. / Zhou, H. / Cai, M. / Kim, H. J. / Yang, Y.

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Titel:

Boost Up Mobility of Solution-Processed Metal Oxide Thin-Film Transistors via Confining Structure on Electron Pathways

Beteiligte:

Rim, Y. S. (Autor:in) / Chen, H. (Autor:in) / Kou, X. (Autor:in) / Duan, H. S. (Autor:in) / Zhou, H. (Autor:in) / Cai, M. (Autor:in) / Kim, H. J. (Autor:in) / Yang, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 26 ; 4273-4278

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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