Characterisation of YSZ Layers Deposited on Y~2O~3 Buffered Textured Tapes for Coated Conductors: Fid-Bau Portal

Characterisation of YSZ Layers Deposited on Y~2O~3 Buffered Textured Tapes for Coated Conductors

Xia, Y.D. / Xiong, J. / Zhang, F. / Xue, Y. / Hu, K. / Zhao, X.H. / Tao, B.W.

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Titel:

Characterisation of YSZ Layers Deposited on Y~2O~3 Buffered Textured Tapes for Coated Conductors

Beteiligte:

Xia, Y.D. (Autor:in) / Xiong, J. (Autor:in) / Zhang, F. (Autor:in) / Xue, Y. (Autor:in) / Hu, K. (Autor:in) / Zhao, X.H. (Autor:in) / Tao, B.W. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 787 ; 425-430

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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