MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface: Fid-Bau Portal

MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface

Sanchez, D. F. / Rodrigues, F. / Luce, F. P. / Fabrim, Z. E. / de M. Azevedo, G. / Kellermann, G. / Baptista, D. L. / Grande, P. L. / Fichtner, P. F.

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Titel:

MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface

Beteiligte:

Sanchez, D. F. (Autor:in) / Rodrigues, F. (Autor:in) / Luce, F. P. (Autor:in) / Fabrim, Z. E. (Autor:in) / de M. Azevedo, G. (Autor:in) / Kellermann, G. (Autor:in) / Baptista, D. L. (Autor:in) / Grande, P. L. (Autor:in) / Fichtner, P. F. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 321 ; 80-85

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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