Band alignment at the Cu2SnS3/In2S3 interface measured by X-ray photoemission spectroscopy: Fid-Bau Portal

Band alignment at the Cu2SnS3/In2S3 interface measured by X-ray photoemission spectroscopy

Jia, H. / Cheng, S. / Zhang, H. / Yu, J. / Lai, Y.

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Titel:

Band alignment at the Cu2SnS3/In2S3 interface measured by X-ray photoemission spectroscopy

Beteiligte:

Jia, H. (Autor:in) / Cheng, S. (Autor:in) / Zhang, H. (Autor:in) / Yu, J. (Autor:in) / Lai, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 353 ; 414-418

Erscheinungsdatum:

01.01.2015

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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