An Improved Method of Projected Area Determination in Nanoindentation Using Image Processing With Sub-Pixel Edge Location: Fid-Bau Portal

An Improved Method of Projected Area Determination in Nanoindentation Using Image Processing With Sub-Pixel Edge Location

Thoo, H. W. / Ratnam, M. M.

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Titel:

An Improved Method of Projected Area Determination in Nanoindentation Using Image Processing With Sub-Pixel Edge Location

Beteiligte:

Thoo, H. W. (Autor:in) / Ratnam, M. M. (Autor:in)

Erschienen in:

EXPERIMENTAL TECHNIQUES ; 40 ; 803-818

Erscheinungsdatum:

01.01.2016

Format / Umfang:

16 pages

ISSN:

0732-8818

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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