Structure and roughness analysis of thin epitaxial Pd films grown on Cu/Si(111) surface: Fid-Bau Portal

Structure and roughness analysis of thin epitaxial Pd films grown on Cu/Si(111) surface

Davydenko, A. V. / Kozlov, A. G. / Ognev, A. V. / Stebliy, M. E. / Chebotkevich, L. A.

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Titel:

Structure and roughness analysis of thin epitaxial Pd films grown on Cu/Si(111) surface

Beteiligte:

Davydenko, A. V. (Autor:in) / Kozlov, A. G. (Autor:in) / Ognev, A. V. (Autor:in) / Stebliy, M. E. (Autor:in) / Chebotkevich, L. A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 384 ; 406-412

Erscheinungsdatum:

01.01.2016

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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