Domain imaging in ferroelectric thin films via channeling-contrast backscattered electron microscopy: Fid-Bau Portal

Domain imaging in ferroelectric thin films via channeling-contrast backscattered electron microscopy

Ihlefeld, J. F. / Michael, J. R. / McKenzie, B. B. / Scrymgeour, D. A. / Maria, J. P. / Paisley, E. A. / Kitahara, A. R.

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Titel:

Domain imaging in ferroelectric thin films via channeling-contrast backscattered electron microscopy

Beteiligte:

Ihlefeld, J. F. (Autor:in) / Michael, J. R. (Autor:in) / McKenzie, B. B. (Autor:in) / Scrymgeour, D. A. (Autor:in) / Maria, J. P. (Autor:in) / Paisley, E. A. (Autor:in) / Kitahara, A. R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 52 ; 1071-1081

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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