Identification of 6H-SiC polar faces with pull-off force of atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

Identification of 6H-SiC polar faces with pull-off force of atomic force microscopy

Gan, D. / Song, Y. / Yang, J. / Chen, H. / Guo, L. / Chen, X.

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Titel:

Identification of 6H-SiC polar faces with pull-off force of atomic force microscopy

Beteiligte:

Gan, D. (Autor:in) / Song, Y. (Autor:in) / Yang, J. (Autor:in) / Chen, H. (Autor:in) / Guo, L. (Autor:in) / Chen, X. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 390 ; 917-923

Erscheinungsdatum:

01.01.2016

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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