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DelRio, F. W. / Cook, R. F.

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Titel:

Quantitative Scanning Probe Microscopy for Nanomechanical Forensics

Beteiligte:

DelRio, F. W. (Autor:in) / Cook, R. F. (Autor:in)

Erschienen in:

EXPERIMENTAL MECHANICS ; 57 ; 1045-1055

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0014-4851

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1

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