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    Titel:

    Binary Resolution Matrix Based Incremental Attribute Reduction for Fault Diagnosis

    Beteiligte:

    Chen, X. Y. (Autor:in) / Du, W. L. (Autor:in) / Li, A. S. (Autor:in) / Li, K. (Autor:in) / Qian, C. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Key engineering materials ; 693 ; 1346-1349

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1105

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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