Evaluation of Two Process Yields in Acceptance Sampling Plans: Fid-Bau Portal

Evaluation of Two Process Yields in Acceptance Sampling Plans

Butt, K. A. / Aslam, M. / Wang, F.-K. / Lee, H. / Jun, C.-H.

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Titel:

Evaluation of Two Process Yields in Acceptance Sampling Plans

Beteiligte:

Butt, K. A. (Autor:in) / Aslam, M. (Autor:in) / Wang, F.-K. (Autor:in) / Lee, H. (Autor:in) / Jun, C.-H. (Autor:in)

Erschienen in:

Journal of testing and evaluation ; 46 ; 756-763

Erscheinungsdatum:

01.01.2018

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0090-3973

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.0044

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