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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Analytical modeling of subthreshold characteristics of ion-implanted symmetric double gate junctionless field effect transistors

    Beteiligte:

    Singh, Balraj (Autor:in) / Gola, Deepti (Autor:in) / Singh, Kunal (Autor:in) / Goel, Ekta (Autor:in) / Kumar, Sanjay (Autor:in) / Jit, Satyabrata (Autor:in)

    Erschienen in:

    Materials science in semiconductor processing ; 58 ; 82-88

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2017

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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