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    Titel:

    Deep-level transient spectroscopy characterization of electrical traps in p-type multicrystalline silicon with gettering and hydrogenation process

    Beteiligte:

    Zheng, Xiong (Autor:in) / Zhou, Chunlan (Autor:in) / Jia, Xiaojie (Autor:in) / Jia, Endong (Autor:in) / Wang, Wenjing (Autor:in)

    Erschienen in:

    Solar energy ; 162 ; 372-377

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2018

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0038-092X

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.47

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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