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    Titel:

    Development of nanotopography during SIMS characterization of thin films of Ge1−xSnx alloy

    Beteiligte:

    Secchi, M. (Autor:in) / Demenev, E. (Autor:in) / Colaux, J.L. (Autor:in) / Giubertoni, D. (Autor:in) / Dell’Anna, R. (Autor:in) / Iacob, E. (Autor:in) / Gwilliam, R.M. (Autor:in) / Jeynes, C. (Autor:in) / Bersani, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 356 ; 422-428

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2015

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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