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DFT study of stepped 4H-SiC{0001} surfaces

Wachowicz, E. / Ossowski, T. / Kiejna, A.

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Titel:

DFT study of stepped 4H-SiC{0001} surfaces

Beteiligte:

Wachowicz, E. (Autor:in) / Ossowski, T. (Autor:in) / Kiejna, A. (Autor:in)

Erschienen in:

Applied surface science ; 420 ; 129-135

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.44

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