Strain path dependence of microstructure and annealing behavior in high purity tantalum: Fid-Bau Portal

Strain path dependence of microstructure and annealing behavior in high purity tantalum

Liu, Y.H. / Liu, S.F. / Zhu, J.L. / Deng, C. / Fan, H.Y. / Cao, L.F. / Liu, Q.

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Titel:

Strain path dependence of microstructure and annealing behavior in high purity tantalum

Beteiligte:

Liu, Y.H. (Autor:in) / Liu, S.F. (Autor:in) / Zhu, J.L. (Autor:in) / Deng, C. (Autor:in) / Fan, H.Y. (Autor:in) / Cao, L.F. (Autor:in) / Liu, Q. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 707 ; 518-530

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

13 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

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