Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    EXAFS study of local structure contributing to Sn stability in SiyGe1-y-zSnz

    Neue Suche nach: Shimura, Yosuke
    Neue Suche nach: Asano, Takanori
    Neue Suche nach: Yamaha, Takashi
    Neue Suche nach: Fukuda, Masahiro
    Neue Suche nach: Takeuchi, Wakana
    Neue Suche nach: Nakatsuka, Osamu
    Neue Suche nach: Zaima, Shigeaki

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    EXAFS study of local structure contributing to Sn stability in SiyGe1-y-zSnz

    Neue Suche nach: Shimura, Yosuke
    Neue Suche nach: Asano, Takanori
    Neue Suche nach: Yamaha, Takashi
    Neue Suche nach: Fukuda, Masahiro
    Neue Suche nach: Takeuchi, Wakana
    Neue Suche nach: Nakatsuka, Osamu
    Neue Suche nach: Zaima, Shigeaki

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    EXAFS study of local structure contributing to Sn stability in SiyGe1-y-zSnz

    Neue Suche nach: Shimura, Yosuke
    Neue Suche nach: Asano, Takanori
    Neue Suche nach: Yamaha, Takashi
    Neue Suche nach: Fukuda, Masahiro
    Neue Suche nach: Takeuchi, Wakana
    Neue Suche nach: Nakatsuka, Osamu
    Neue Suche nach: Zaima, Shigeaki

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    EXAFS study of local structure contributing to Sn stability in SiyGe1-y-zSnz

    Beteiligte:

    Shimura, Yosuke (Autor:in) / Asano, Takanori (Autor:in) / Yamaha, Takashi (Autor:in) / Fukuda, Masahiro (Autor:in) / Takeuchi, Wakana (Autor:in) / Nakatsuka, Osamu (Autor:in) / Zaima, Shigeaki (Autor:in)

    Erschienen in:

    Materials science in semiconductor processing ; 70 ; 133-138

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2017

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Local structure of '-sialons: an EXAFS study

    Sjoeberg, J. / Ericsson, T. / Lindqvist, O. | British Library Online Contents | 1992

    Study of local environment of Ag in Ag/CeO2 catalyst by EXAFS

    Sarode, P. R. / Priolkar, K. R. / Bera, P. et al. | British Library Online Contents | 2002

    EXAFS study of PZT sols

    Arcon, I. / Malic, B. / Kosec, M. et al. | British Library Online Contents | 2003

    Probing Local Structure by Multiple-Scattering EXAFS Data-Analysis: Application to Nanocrystalline Iron

    Di Cicco, A. | British Library Online Contents | 1995

    EXAFS study on the local atomic structures around Ce in CeO2 nanoparticles

    Wu, Z. / Guo, L. / Li, H. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Nach oben