Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Neue Suche nach: Feng, Zhaoqing
    Neue Suche nach: Feng, Qian
    Neue Suche nach: Zhang, Jincheng
    Neue Suche nach: Li, Xiang
    Neue Suche nach: Li, Fuguo
    Neue Suche nach: Huang, Lu
    Neue Suche nach: Chen, Hong-Yan
    Neue Suche nach: Lu, Hong-Liang
    Neue Suche nach: Hao, Yue

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Neue Suche nach: Feng, Zhaoqing
    Neue Suche nach: Feng, Qian
    Neue Suche nach: Zhang, Jincheng
    Neue Suche nach: Li, Xiang
    Neue Suche nach: Li, Fuguo
    Neue Suche nach: Huang, Lu
    Neue Suche nach: Chen, Hong-Yan
    Neue Suche nach: Lu, Hong-Liang
    Neue Suche nach: Hao, Yue

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Neue Suche nach: Feng, Zhaoqing
    Neue Suche nach: Feng, Qian
    Neue Suche nach: Zhang, Jincheng
    Neue Suche nach: Li, Xiang
    Neue Suche nach: Li, Fuguo
    Neue Suche nach: Huang, Lu
    Neue Suche nach: Chen, Hong-Yan
    Neue Suche nach: Lu, Hong-Liang
    Neue Suche nach: Hao, Yue

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Beteiligte:

    Feng, Zhaoqing (Autor:in) / Feng, Qian (Autor:in) / Zhang, Jincheng (Autor:in) / Li, Xiang (Autor:in) / Li, Fuguo (Autor:in) / Huang, Lu (Autor:in) / Chen, Hong-Yan (Autor:in) / Lu, Hong-Liang (Autor:in) / Hao, Yue (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 434 ; 440-444

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2018

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Feng, Zhaoqing / Feng, Qian / Zhang, Jincheng et al. | British Library Online Contents | 2018

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Feng, Zhaoqing / Feng, Qian / Zhang, Jincheng et al. | British Library Online Contents | 2018

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Feng, Zhaoqing / Feng, Qian / Zhang, Jincheng et al. | British Library Online Contents | 2018

    Band alignment of SiO2/(AlxGa1-x)2O3 (0≤x≤0.49) determined by X-ray photoelectron spectroscopy

    Feng, Zhaoqing / Feng, Qian / Zhang, Jincheng et al. | British Library Online Contents | 2018

    High-resolution X-ray photoelectron spectroscopy of AlxGa1-xSb

    Ramelan, A. H. / Butcher, K. S. / Goldys, E. M. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Nach oben