Surface morphology of amorphous germanium thin films following thermal outgassing of SiO2/Si substrates: Fid-Bau Portal

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Surface morphology of amorphous germanium thin films following thermal outgassing of SiO2/Si substrates

Valladares, L. de los Santos / Dominguez, A. Bustamante / Llandro, J. / Holmes, S. / Quispe, O. Avalos / Langford, R. / Aguiar, J. Albino / Barnes, C.H.W.

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Valladares, L. de los Santos / Dominguez, A. Bustamante / Llandro, J. / Holmes, S. / Quispe, O. Avalos / Langford, R. / Aguiar, J. Albino / Barnes, C.H.W.

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Titel:

Surface morphology of amorphous germanium thin films following thermal outgassing of SiO2/Si substrates

Beteiligte:

Valladares, L. de los Santos (Autor:in) / Dominguez, A. Bustamante (Autor:in) / Llandro, J. (Autor:in) / Holmes, S. (Autor:in) / Quispe, O. Avalos (Autor:in) / Langford, R. (Autor:in) / Aguiar, J. Albino (Autor:in) / Barnes, C.H.W. (Autor:in)

Erschienen in:

Applied surface science ; 316 ; 15-21

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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