Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Determination of N-polar AlN/GaN heterojunction valance-band offsets by X-ray photoelectron spectroscopy
Determination of N-polar AlN/GaN heterojunction valance-band offsets by X-ray photoelectron spectroscopy
Determination of N-polar AlN/GaN heterojunction valance-band offsets by X-ray photoelectron spectroscopy
Du, Jin-Juan (Autor:in) / Xu, Sheng-Rui (Autor:in) / Zhang, Jin-Cheng (Autor:in) / Li, Pei-Xian (Autor:in) / Lin, Zhi-Yu (Autor:in) / Zhao, Ying (Autor:in) / Peng, Ruo-Shi (Autor:in) / Fan, Xiao-Meng (Autor:in) / Tao, Hong-Chang (Autor:in) / Hao, Yue (Autor:in)
MATERIALS LETTERS ; 230 ; 135-138
01.01.2018
4 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Unbekannt
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Band offsets of novel CoTiO3/Ag3VO4 heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy
| British Library Online Contents | 2015