Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers: Fid-Bau Portal

Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers

Persichetti, L. / Fanfoni, M. / De Seta, M. / Di Gaspare, L. / Ottaviano, L. / Goletti, C. / Sgarlata, A.

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Titel:

Formation of extended thermal etch pits on annealed Ge wafers

Beteiligte:

Persichetti, L. (Autor:in) / Fanfoni, M. (Autor:in) / De Seta, M. (Autor:in) / Di Gaspare, L. (Autor:in) / Ottaviano, L. (Autor:in) / Goletti, C. (Autor:in) / Sgarlata, A. (Autor:in)

Erschienen in:

Applied surface science ; 462 ; 86-94

Erscheinungsdatum:

01.01.2018

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.44

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