Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Interdiffusion in as-deposited Ni/Ti multilayer thin films analyzed by atom probe tomography

    Neue Suche nach: Aboulfadl, Hisham
    Neue Suche nach: Seifried, Fabian
    Neue Suche nach: Stüber, Michael
    Neue Suche nach: Mücklich, Frank

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Interdiffusion in as-deposited Ni/Ti multilayer thin films analyzed by atom probe tomography

    Neue Suche nach: Aboulfadl, Hisham
    Neue Suche nach: Seifried, Fabian
    Neue Suche nach: Stüber, Michael
    Neue Suche nach: Mücklich, Frank

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Interdiffusion in as-deposited Ni/Ti multilayer thin films analyzed by atom probe tomography

    Neue Suche nach: Aboulfadl, Hisham
    Neue Suche nach: Seifried, Fabian
    Neue Suche nach: Stüber, Michael
    Neue Suche nach: Mücklich, Frank

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Interdiffusion in as-deposited Ni/Ti multilayer thin films analyzed by atom probe tomography

    Beteiligte:

    Aboulfadl, Hisham (Autor:in) / Seifried, Fabian (Autor:in) / Stüber, Michael (Autor:in) / Mücklich, Frank (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS LETTERS ; 236 ; 92-95

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2019

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0167-577X

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Interdiffusion in as-deposited Ni/Ti multilayer thin films analyzed by atom probe tomography

    Aboulfadl, Hisham / Seifried, Fabian / Stüber, Michael et al. | British Library Online Contents | 2019

    Interdiffusion in as-deposited Ni/Ti multilayer thin films analyzed by atom probe tomography

    Aboulfadl, Hisham / Seifried, Fabian / Stüber, Michael et al. | British Library Online Contents | 2019

    Microstructure-controlled interdiffusion of Cu/Co/Au thin films investigated by three-dimensional atom probe

    Lang, C. / Schmitz, G. | British Library Online Contents | 2003

    Thin film interreaction of Al/Ag analyzed by tomographic atom probe

    Schleiwies, J. / Schmitz, G. | British Library Online Contents | 2002

    Atom probe tomography today

    Cerezo, A. / Clifton, P. H. / Galtrey, M. J. et al. | British Library Online Contents | 2007

    Nach oben