Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Principles of surface testing by formation of interference patterns; microscope constructed by Zeiss-Opton.
Surface testing with interference microscope
Oberflaechenpruefung mit dem Interferenzmikroskop
Illig, W. (Autor:in)
1953
Photomicrographs
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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