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Static behavior of stud connectors in bi-direction push-off tests

Ding, Fa-xing / Yin, Guo-an / Wang, Hai-bo / Wang, Liping / Guo, Qiang

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Titel:

Static behavior of stud connectors in bi-direction push-off tests

Weitere Titelangaben:

Thin-Walled Structures

Beteiligte:

Ding, Fa-xing (Autor:in) / Yin, Guo-an (Autor:in) / Wang, Hai-bo (Autor:in) / Wang, Liping (Autor:in) / Guo, Qiang (Autor:in)

Erschienen in:

Thin-Walled Structures ; 120

Erscheinungsdatum:

01.11.2017

ISSN:

0263-8231

DOI:

https://doi.org/10.1016/j.tws.2017.09.011

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Elektronische Ressource

Sprache:

Englisch

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