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COMPOSITE STRUCTURE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE INCLUDING COMPOSITE STRUCTURE
Disclosed are: a composite structure which is used as a member for a semiconductor manufacturing device and with which low-particle generation can be enhanced; and a semiconductor manufacturing device comprising the same. This composite structure, which comprises a substrate and a structure having a surface and provided on the substrate and in which the structure contains Y4Al2O9 as a main component and has an indentation hardness of greater than 6.0 GPa, has excellent low-particle generation and is preferably used as a member for a semiconductor manufacturing device.
Sont divulgués : une structure composite qui est utilisée en tant qu'élément pour un dispositif de fabrication de semi-conducteur et avec laquelle la génération de petites particules peut être améliorée ; et un dispositif de fabrication de semi-conducteur la comprenant. Cette structure composite, qui comprend un substrat et une structure ayant une surface et disposée sur le substrat et dans laquelle la structure contient Y4Al2O9 en tant que composant principal et a une dureté d'indentation supérieure à 6,0 GPa, a une excellente génération de petites particules et est de préférence utilisée en tant qu'élément pour un dispositif de fabrication de semi-conducteur.
耐パーティクル性(low-particle generation)を高めることができる、半導体製造装置用部材として用いられる複合構造物およびそれを備えた半導体製造装置が開示されている。基材と、前記基材上に設けられ、表面を有する構造物とを含む複合構造物であって、前記構造物がY4Al2O9を主成分として含み、かつそのインデンテーション硬度が6.0GPaより大である複合構造物は、耐パーティクル性に優れ、半導体製造装置用部材として好ましく用いられる。
COMPOSITE STRUCTURE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE INCLUDING COMPOSITE STRUCTURE
Disclosed are: a composite structure which is used as a member for a semiconductor manufacturing device and with which low-particle generation can be enhanced; and a semiconductor manufacturing device comprising the same. This composite structure, which comprises a substrate and a structure having a surface and provided on the substrate and in which the structure contains Y4Al2O9 as a main component and has an indentation hardness of greater than 6.0 GPa, has excellent low-particle generation and is preferably used as a member for a semiconductor manufacturing device.
Sont divulgués : une structure composite qui est utilisée en tant qu'élément pour un dispositif de fabrication de semi-conducteur et avec laquelle la génération de petites particules peut être améliorée ; et un dispositif de fabrication de semi-conducteur la comprenant. Cette structure composite, qui comprend un substrat et une structure ayant une surface et disposée sur le substrat et dans laquelle la structure contient Y4Al2O9 en tant que composant principal et a une dureté d'indentation supérieure à 6,0 GPa, a une excellente génération de petites particules et est de préférence utilisée en tant qu'élément pour un dispositif de fabrication de semi-conducteur.
耐パーティクル性(low-particle generation)を高めることができる、半導体製造装置用部材として用いられる複合構造物およびそれを備えた半導体製造装置が開示されている。基材と、前記基材上に設けられ、表面を有する構造物とを含む複合構造物であって、前記構造物がY4Al2O9を主成分として含み、かつそのインデンテーション硬度が6.0GPaより大である複合構造物は、耐パーティクル性に優れ、半導体製造装置用部材として好ましく用いられる。
COMPOSITE STRUCTURE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE INCLUDING COMPOSITE STRUCTURE
STRUCTURE COMPOSITE ET DISPOSITIF DE FABRICATION DE SEMI-CONDUCTEUR COMPRENANT UNE STRUCTURE COMPOSITE
複合構造物および複合構造物を備えた半導体製造装置
ASHIZAWA HIROAKI (Autor:in) / TAKIZAWA RYOTO (Autor:in)
06.10.2022
Patent
Elektronische Ressource
Japanisch
Composite structure and semiconductor manufacturing apparatus including composite structure
Europäisches Patentamt | 2023
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|COMPOSITE STRUCTURE AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS INCLUDING THE SAME
Europäisches Patentamt | 2021
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