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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Scaling studies of coaxially gated carbon nanotube MOSFETs

    Beteiligte:

    Chiyui Ahn, (Autor:in) / Mincheol Shin, (Autor:in)

    Erschienen in:

    2006 IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference ; 1 ; 548-549

    Erscheinungsdatum:

    01.10.2006

    Format / Umfang:

    269353 byte

    ISBN:

    978-1-4244-0541-1 , 978-1-4244-0540-4

    DOI:

    https://doi.org/10.1109/NMDC.2006.4388896

    Medientyp:

    Aufsatz (Konferenz)

    Format:

    Elektronische Ressource

    Sprache:

    Englisch

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