Quantitative X-Ray Diffraction Analysis of Chromium(III) Doped Tricalcium Silicate Pastes: Fid-Bau Portal

Quantitative X-Ray Diffraction Analysis of Chromium(III) Doped Tricalcium Silicate Pastes

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Titel:

Quantitative X-Ray Diffraction Analysis of Chromium(III) Doped Tricalcium Silicate Pastes

Beteiligte:

Omotoso, O.E. (Autor:in) / Ivey, D.G. / Mikula, R.

Erschienen in:

Cement and concrete research ; 26

Erscheinungsdatum:

1996

ISSN:

0008-8846

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

Zement , Zeitschrift , Beton

Klassifikation:

Lokalklassifikation TIB: 770/6530
BKL: 58.45 / 56.45 Baustoffkunde / 58.45 Gesteinshüttenkunde / 56.45

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