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Fachthemen - Struktur-Untersuchung überkonsolidierter Tone mit dem Raster-Kraft-Mikroskop (AFM)

Schick, Peter

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Titel:

Fachthemen - Struktur-Untersuchung überkonsolidierter Tone mit dem Raster-Kraft-Mikroskop (AFM)

Beteiligte:

Schick, Peter (Autor:in) / Kempe, Andre / Wedderer, Oliver / Heckl, Wolfgang

Erschienen in:

Bautechnik ; 80

Erscheinungsdatum:

2003

ISSN:

0932-8351

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Deutsch

Schlagwörter:

Architektur , Bautechnik

Klassifikation:

Lokalklassifikation TIB: 020/6500
BKL: 56.60 Architektur: Allgemeines / 56.00 Bauwesen: Allgemeines
RVK: ZG 1100

Schick, P. / Kempe, A. / Wedderer, O. et al. | Wiley | 2003

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