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Fachthemen - Struktur-Untersuchung überkonsolidierter Tone mit dem Raster-Kraft-Mikroskop (AFM)

Schick, Peter

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Title:

Fachthemen - Struktur-Untersuchung überkonsolidierter Tone mit dem Raster-Kraft-Mikroskop (AFM)

Contributors:

Schick, Peter (author) / Kempe, Andre / Wedderer, Oliver / Heckl, Wolfgang

Published in:

Bautechnik ; 80

Publication date:

2003

ISSN:

0932-8351

Type of media:

Article (Journal)

Type of material:

Language:

German

Keywords:

Architektur , Bautechnik

Classification:

Local classification TIB: 020/6500
BKL: 56.60 Architektur: Allgemeines / 56.00 Bauwesen: Allgemeines
RVK: ZG 1100

Schick, P. / Kempe, A. / Wedderer, O. et al. | Wiley | 2003

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