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    Titel:

    Application of electrical resistivity tomography in investigating depth of permafrost base and permafrost structure in Tibetan Plateau

    Beteiligte:

    You, Yanhui (Autor:in) / Yu, Qihao / Pan, Xicai / Wang, Xinbin / Guo, Lei

    Erschienen in:

    Cold regions science and technology ; 87

    Erscheinungsdatum:

    2013

    ISSN:

    0165-232X

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    BKL:  50.99 Technik allgemein: Sonstiges / 38.43 Gletscherkunde / 56.20 Ingenieurgeologie, Bodenmechanik

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