Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces and Interfaces: Fid-Bau Portal

Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces and Interfaces

Tromp, R. M. / Loenen, E. J. / Hamers, R. J. / Demuth, J. E.

Abstract This paper describes recent experimental results on the geometric and electronic structure of semiconductor surfaces and interfaces obtained with Scanning Tunneling Microscopy. Effects due to the structure of the tip are also discussed.

Zugriff

Zugriff prüfen

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces and Interfaces

Tromp, R. M. / Loenen, E. J. / Hamers, R. J. / Demuth, J. E.

Abstract

Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces and Interfaces

Tromp, R. M. / Loenen, E. J. / Hamers, R. J. / Demuth, J. E.

Abstract

Zugriff

Zugriff prüfen

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Surfaces and Interfaces

Beteiligte:

Tromp, R. M. (Autor:in) / Loenen, E. J. (Autor:in) / Hamers, R. J. (Autor:in) / Demuth, J. E. (Autor:in)

Erschienen in:

The Structure of Surfaces II ; 282-291

Springer Series in Surface Sciences ; 11

Erscheinungsdatum:

01.01.1988

Format / Umfang:

10 pages

ISBN:

978-3-642-73345-1 , 978-3-642-73343-7

ISSN:

0931-5195

DOI:

https://doi.org/10.1007/978-3-642-73343-7_47

Medientyp:

Aufsatz/Kapitel (Buch)

Format:

Elektronische Ressource

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

Scanning Tunneling Microscopy , Dangling Bond , Transmission Electron Diffraction , Scanning Tunneling Microscopy Study , Surface Electronic Structure Physics , Surface and Interface Science, Thin Films , Surfaces and Interfaces, Thin Films , Crystallography

Feenstra, R. M. | Springer Verlag | 1990

Scanning Tunneling Microscopy of III–V Compound Semiconductor (001) Surfaces

Xue, Qi-Kun / Hashizume, T. / Sakurai, T. | Springer Verlag | 2000

Scanning tunneling microscopy of polished diamond surfaces

Couto, M. / Van Enckevort, W. J. P. / Wichman, B. et al. | British Library Online Contents | 1992

Scanning tunneling microscopy study of GaAs(001) surfaces

Xue, Q.-K. / Hashizume, T. / Sakurai, T. | British Library Online Contents | 1999

Scanning Tunneling Microscopy

Behm, R. J. / Hösler, W. | Springer Verlag | 1986

Nach oben