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    Titel:

    Small‐ and Wide‐Angle X‐Ray Scattering for Characterization of Nanostructured Particles

    Beteiligte:

    Guo, X. (Autor:in) / Gutsche, A. (Autor:in) / Nirschl, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Chemie Ingenieur Technik ; 86 ; 1543-1544

    Erscheinungsdatum:

    01.09.2014

    Format / Umfang:

    2 pages

    ISSN:

    0009-286X , 1522-2640

    DOI:

    https://doi.org/10.1002/cite.201450179

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Elektronische Ressource

    Sprache:

    Englisch

    Schlagwörter:

    Nanoparticles , Small‐ and wide‐angle X‐ray scattering

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