Charakterisierung des Adhäsionsverhaltens von <i>Aspergillus niger</i>‐Sporen mit dem Rasterkraftmikroskop: Fid-Bau Portal

Charakterisierung des Adhäsionsverhaltens von Aspergillus niger‐Sporen mit dem Rasterkraftmikroskop

Wargenau, A. / Kampen, I. / Kwade, A.

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Titel:

Charakterisierung des Adhäsionsverhaltens von Aspergillus niger‐Sporen mit dem Rasterkraftmikroskop

Beteiligte:

Wargenau, A. (Autor:in) / Kampen, I. (Autor:in) / Kwade, A. (Autor:in)

Erschienen in:

Chemie Ingenieur Technik ; 81 ; 1271

Erscheinungsdatum:

01.08.2009

Format / Umfang:

1 pages

ISSN:

0009-286X , 1522-2640

DOI:

https://doi.org/10.1002/cite.200950176

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Elektronische Ressource

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

Adhäsion , Rasterkraftmikroskop

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