Charakterisierung des Adhäsionsverhaltens von <i>Aspergillus niger</i>‐Sporen mit dem Rasterkraftmikroskop: Fid-Bau Portal

Charakterisierung des Adhäsionsverhaltens von Aspergillus niger‐Sporen mit dem Rasterkraftmikroskop

Wargenau, A. / Kampen, I. / Kwade, A.

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Title:

Charakterisierung des Adhäsionsverhaltens von Aspergillus niger‐Sporen mit dem Rasterkraftmikroskop

Contributors:

Wargenau, A. (author) / Kampen, I. (author) / Kwade, A. (author)

Published in:

Chemie Ingenieur Technik ; 81 ; 1271

Publication date:

2009-08-01

Size:

1 pages

ISSN:

0009-286X , 1522-2640

DOI:

https://doi.org/10.1002/cite.200950176

Type of media:

Article (Journal)

Type of material:

Electronic Resource

Language:

English

Keywords:

Adhäsion , Rasterkraftmikroskop

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