Caracterisation electrique de la qualite interfaciale du systeme Silicium/Dioxyde de Silicium: Fid-Bau Portal

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Caracterisation electrique de la qualite interfaciale du systeme Silicium/Dioxyde de Silicium

Seigneur, F. / Institut National des Sciences Appliquees de Lyon / L'Association des Doctorants de l'Insa de Lyon / Le Departement des Etudes Doctorales de l'Insa de Lyon

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Title:

Caracterisation electrique de la qualite interfaciale du systeme Silicium/Dioxyde de Silicium

Contributors:

Seigneur, F. (author) / Institut National des Sciences Appliquees de Lyon / L'Association des Doctorants de l'Insa de Lyon / Le Departement des Etudes Doctorales de l'Insa de Lyon

Conference:

1 Colloque des doctorants ; 1994 ; Lyons; France

Published in:

1 Colloque des doctorants ; 295-296

COLLOQUE DES DOCTORANTS- INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE LYON

Publication date:

1994-01-01

Size:

2 pages

Remarks:

In French and English

ISBN:

Type of media:

Conference paper

Type of material:

Print

Language:

French

Keywords:

doctorants , INSA , ADIL , DED

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