Thin-film SOI n-MOSFET low-frequency noise measurements at elevated temperatures: Fid-Bau Portal

Thin-film SOI n-MOSFET low-frequency noise measurements at elevated temperatures

Dessard, V. / Eggermont, J. P. / Flandre, D. / Engineering Foundation

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Titel:

Thin-film SOI n-MOSFET low-frequency noise measurements at elevated temperatures

Beteiligte:

Dessard, V. (Autor:in) / Eggermont, J. P. (Autor:in) / Flandre, D. (Autor:in) / Golecki, I. / Engineering Foundation

Kongress:

High-temperature electronic materials, devices and sensors conference ; 1998 ; San Diego; CA

Erschienen in:

High-temperature electronic materials, devices and sensors conference ; 94-99

HIGH TEMPERATURE ELECTRONIC DEVICES AND SENSORS CONFERENCE

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

6 pages

Anmerkungen:

IEEE cat no 98EX132

ISBN:

0780347375 , 0780344383

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

high temperature electronic materials , electronic materials

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