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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Direct REM observation of structural processes on clean silicon surfaces during sublimation, phase transition and epitaxy

    Beteiligte:

    Latyshev, A. V. (Autor:in) / Krasilnikov, A. B. (Autor:in) / Aseev, A. L. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 60 ; 397

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1992

    Format / Umfang:

    397 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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