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Surface and Thin Film Analysis of Metals and Semiconductors Using X-Ray Photoelectron Spectroscopy

Hofmann, S.

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Titel:

Surface and Thin Film Analysis of Metals and Semiconductors Using X-Ray Photoelectron Spectroscopy

Beteiligte:

Hofmann, S. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 883

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

883 pages

ISSN:

0376-0308

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 539.7222

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