Valence bands offset between depleted semiconductors measured by photoelectron spectroscopy: Fid-Bau Portal

Valence bands offset between depleted semiconductors measured by photoelectron spectroscopy

Kumar, S. / Jha, S. N. / Ganguli, T. / Bhaskara Rao, S. V. / Das, N. C.

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Titel:

Valence bands offset between depleted semiconductors measured by photoelectron spectroscopy

Beteiligte:

Kumar, S. (Autor:in) / Jha, S. N. (Autor:in) / Ganguli, T. (Autor:in) / Bhaskara Rao, S. V. (Autor:in) / Das, N. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 229 ; 324-332

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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